Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки A63.7081 Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x
Описание товара
A63.7081 Полевая эмиссионная пушка Шоттки Сканирующий электронный микроскоп Pro FEG SEM | ||
Разрешение | 1 нм @ 30 кВ (SE); 3 нм @ 1 кВ (SE); 2,5 нм @ 30 кВ (BSE) | |
Увеличение | 15x ~ 800000x | |
Электронная пушка | Эмиссионная электронная пушка Шоттки | |
Ток электронного луча | 10 пА ~ 0,3 мкА | |
Ускорение путешествия | 0 ~ 30 кВ | |
Вакуумная система | 2 ионных насоса, турбомолекулярный насос, механический насос | |
Детектор | SE: Детектор вторичных электронов высокого вакуума (с защитой детектора) | |
BSE: полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния | ||
ПЗС-матрица | ||
Образец Стадия | Эуцентрический моторизованный столик с пятью осями | |
Диапазон перемещения | X | 0 ~ 150 мм |
Y | 0 ~ 150 мм | |
Z | 0 ~ 60 мм | |
R | 360º | |
T | -5º ~ 75º | |
Максимальный диаметр образца | 320 мм | |
Модификация | EBL; STM; AFM; этап нагрева; этап крио; этап растяжения; микронано-манипулятор; SEM + машина для нанесения покрытия; SEM + лазер и т. Д. | |
Аксессуары | Детектор рентгеновского излучения (EDS), EBSD, CL, WDS, лакировочная машина и т. Д. |
Преимущество и случаи
Сканирующая электронная микроскопия (sem) подходит для наблюдения топографии поверхности металлов, керамики, полупроводников, минералов, биологии, полимеров, композитов и наноразмерных одномерных, двумерных и трехмерных материалов (вторичное электронное изображение, изображение с обратным рассеянием электронов). Его можно использовать для анализа точечных, линейных и поверхностных компонентов микрорегиона. Он широко используется в нефти, геологии, месторождениях полезных ископаемых, электронике, полупроводниках, медицине, биологии, химической промышленности, области полимерных материалов уголовное расследование в сфере общественной безопасности, сельского, лесного и других отраслей. |
Информация о компании
Напишите здесь свое сообщение и отправьте его нам