Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки A63.7081 Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

Краткое описание:

  • Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки, 15x ~ 800000x
  • Ускорение электронного луча со стабильной подачей тока луча Превосходное изображение при низком напряжении
  • Непроводящий образец можно наблюдать напрямую, нет необходимости распылять его при низком напряжении
  • Простой и удобный интерфейс, все управляется мышью в системе Windows
  • Большая комната для образцов с эуцентрической моторизованной сценой с пятью осями Большой размер, максимальный диаметр образца 320 мм
  • Минимум для заказа:1

->


Информация о продукте

Теги продукта

A63.7081_01.jpg

Описание товара

A63.7081 Полевая эмиссионная пушка Шоттки Сканирующий электронный микроскоп Pro FEG SEM
Разрешение 1 нм @ 30 кВ (SE); 3 нм @ 1 кВ (SE); 2,5 нм @ 30 кВ (BSE)
Увеличение 15x ~ 800000x
Электронная пушка Эмиссионная электронная пушка Шоттки
Ток электронного луча 10 пА ~ 0,3 мкА
Ускорение путешествия 0 ~ 30 кВ
Вакуумная система 2 ионных насоса, турбомолекулярный насос, механический насос
Детектор SE: Детектор вторичных электронов высокого вакуума (с защитой детектора)
BSE: полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния
ПЗС-матрица
Образец Стадия Эуцентрический моторизованный столик с пятью осями
Диапазон перемещения X 0 ~ 150 мм
Y 0 ~ 150 мм
Z 0 ~ 60 мм
R 360º
T -5º ~ 75º
Максимальный диаметр образца 320 мм
Модификация EBL; STM; AFM; этап нагрева; этап крио; этап растяжения; микронано-манипулятор; SEM + машина для нанесения покрытия; SEM + лазер и т. Д.
Аксессуары Детектор рентгеновского излучения (EDS), EBSD, CL, WDS, лакировочная машина и т. Д.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Преимущество и случаи
Сканирующая электронная микроскопия (sem) подходит для наблюдения топографии поверхности металлов, керамики, полупроводников, минералов, биологии, полимеров, композитов и наноразмерных одномерных, двумерных и трехмерных материалов (вторичное электронное изображение, изображение с обратным рассеянием электронов). Его можно использовать для анализа точечных, линейных и поверхностных компонентов микрорегиона. Он широко используется в нефти, геологии, месторождениях полезных ископаемых, электронике, полупроводниках, медицине, биологии, химической промышленности, области полимерных материалов уголовное расследование в сфере общественной безопасности, сельского, лесного и других отраслей.

A63_13.jpg

A63.7081_15.jpg

A63.7081_16.jpg

Информация о компании

_02_02.jpg


  • Предыдущий:
  • Следующий:

  • Напишите здесь свое сообщение и отправьте его нам